ケツト科学研究所 プローブ EP-100

商品情報
《仕様》
●測定方式：電磁誘導式
●測定対象：磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲：0〜2500μm
●測定精度：15μm未満±0.3μm、15μm以上1000μm未満±2%、1000μm以上±3%
●対応器種：L-500
《特長》
●膜厚計L-500用新開発プローブです。
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)です。
●アプリケーションメモリを50本まで保存。
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